絕緣電阻較低，泄漏電流較大而不合格的試品，為何在進(jìn)行介質(zhì)損耗因數(shù)tgδ測(cè)量時(shí)不一定很大，有時(shí)還可能合格呢?

　　絕緣電阻較低，泄漏電流較大而不合格的試品，一般表明在被試的并聯(lián)等值電路中某部分絕緣較低。并聯(lián)等值電路的介質(zhì)損耗因數(shù)tg8測(cè)量時(shí)，其值介于并聯(lián)電路中最大與最小介質(zhì)損支路的值之間，且主要反映體積較大或電容較大部分。只有當(dāng)絕緣較低部分的體積(或電容)很大時(shí)，實(shí)測(cè)tgδ值才較大并反映出不合格值。當(dāng)絕緣較低部分體積很小時(shí)，測(cè)得整體(全部并聯(lián)支路)的tgδ值不一定很大，且有可能小于《規(guī)程》規(guī)定值。例如，變壓器高壓對(duì)中、低壓及對(duì)地絕緣很低，此電路包括繞組間、繞組對(duì)地和高壓套管等并聯(lián)支路。當(dāng)套管絕緣很低時(shí)，往往就不能從這一整體介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)量值中反映出來(lái)，所以必須進(jìn)行單套管試驗(yàn)。